AD-Systems – LAP-TEQ Inclinometer

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LAP-TEQ Inclinometer

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Das LAP-TEQ Inclinometer dient zur Messung der Neigung des Line-Arrays. Es besteht aus dem Sensor und der Ableseeinheit. Im Sensor ist zur Visualisierung der Neigung noch ein Laser eingebaut, der die Endposition des Arrays zeigt

Zusätzliche Informationen

Unit

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Marke

AD-Systems